[vc_row el_class=”container”][vc_column][vc_raw_html]JTNDaDIlMjBjbGFzcyUzRCUyMmNvbnRhaW5lciUyMHBhZ2UtdGl0bGUlMjIlMjAlM0VMYWJvcmF0b3JpYSUyMGklMjBhcGFyYXR1cmElMjBiYWRhd2N6YSUzQyUyRmgyJTNF[\/vc_raw_html][vc_row_inner][vc_column_inner width=”1\/6″][\/vc_column_inner][vc_column_inner width=”2\/3″]\r\n
\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>\r\n
Centrum dysponuje najnowocze\u015bniejsz\u0105 aparatur\u0105 dost\u0119pn\u0105 na rynku. Umo\u017cliwia ona korelacyjne badanie materii w skali molekularnej oraz powi\u0105zanie w\u0142a\u015bciwo\u015bci materia\u0142\u00f3w z ich struktur\u0105.<\/p>\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[\/vc_column_inner][vc_column_inner width=”1\/6″][\/vc_column_inner][\/vc_row_inner]\r\n\r\n
\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[vc_custom_heading text=”Przystosowany do bada\u0144 w warunkach kriogenicznych (Cryo-TEM) z dzia\u0142em z emisj\u0105 polow\u0105 o podwy\u017cszonej jasno\u015bci oraz napi\u0119ciem przyspieszaj\u0105cym w zakresie od 60 do 200 kV.” font_container=”tag:p|font_size:1.6em|text_align:left|line_height:1.5″ google_fonts=”font_family:PT%20Sans%3Aregular%2Citalic%2C700%2C700italic|font_style:700%20bold%20regular%3A700%3Anormal” el_class=”container”][vc_single_image image=”801″ img_size=”full” el_class=”container”]\r\n
CRYO-TEM umo\u017cliwia bezpo\u015brednie obrazowanie i charakterystyk\u0119 obiekt\u00f3w w stanie naturalnym oraz roztwor\u00f3w wodnych po przeprowadzeniu ich w stan szklisty poprzez szokowe zamro\u017cenie (witryfikacja) zapobiegaj\u0105ce zniekszta\u0142ceniu obiekt\u00f3w. Urz\u0105dzenie jest przystosowane do pracy w temperaturze pokojowej z normalnymi pr\u00f3bkami materia\u0142\u00f3w oraz z preparatami zamro\u017conymi.<\/p>\n
Mikroskop pozwala na obserwacje w klasycznym trybie z wi\u0105zk\u0105 r\u00f3wnoleg\u0142\u0105 z rozdzielczo\u015bci\u0105 punktow\u0105 nie gorsz\u0105 ni\u017c 0,30 nm oraz w trybie skaningowym ze skupion\u0105 wi\u0105zk\u0105 (STEM) z rozdzielczo\u015bci\u0105 nie gorsz\u0105 ni\u017c 0,20 nm. Akwizycja obraz\u00f3w w trybie TEM dokonywana jest z wykorzystaniem kamery typu CMOS o rozdzielczo\u015bci nie gorszej ni\u017c 4kx4k pikseli. Kamera charakteryzuje si\u0119 szybko\u015bci\u0105 40 fps przy pe\u0142nej rozdzielczo\u015bci.<\/p>\n
Mikroskop wyposa\u017cony jest nabiegunnik soczewki obiektywowej o odleg\u0142o\u015bci wi\u0119kszej ni\u017c 10 mm dla odpowiedniego kontrastu pr\u00f3bek materii mi\u0119kkiej oraz dla wielu rodzaj\u00f3w uchwyt\u00f3w mikroskopowych. Tryb STEM pr\u00f3bek materia\u0142owych posiada 3 detektory. Rejestracja obraz\u00f3w STEM jest mo\u017cliwa z maksymaln\u0105 rozdzielczo\u015bci\u0105 4kx4k pikseli, z automatyczn\u0105 korekcj\u0105 dryfu i jednocze\u015bnie na wszystkich detektorach. W trybie STEM mo\u017cliwe jest analizowanie pr\u00f3bek o grubo\u015bci przekraczaj\u0105cej nawet 500 nm oraz uzyskiwanie du\u017cej g\u0142\u0119bi ostro\u015bci dzi\u0119ki niskiemu k\u0105towi zbie\u017cno\u015bci (<1 mrad).<\/p>\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[\/vc_column][vc_column width=”1\/6″][\/vc_column][\/vc_row][vc_row el_class=”container”][vc_column width=”1\/6″][\/vc_column][vc_column width=”2\/3″ el_class=”container”][vc_empty_space height=”2em”]\r\n
\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[vc_custom_heading text=”Wyposa\u017cony w dzia\u0142o elektronowe z emiterem Schottky zintegrowany z konfokalnym mikroskopem Ramana systemem analitycznym zawieraj\u0105cym spektrometry EDS oraz WDS (SEM-EDX-WDX-Raman).” font_container=”tag:p|font_size:1.6em|text_align:left|line_height:1.5″ google_fonts=”font_family:PT%20Sans%3Aregular%2Citalic%2C700%2C700italic|font_style:700%20bold%20regular%3A700%3Anormal” el_class=”container”][vc_single_image image=”814″ img_size=”full” el_class=”container”]\r\n
Skaningowy mikroskop elektronowy umo\u017cliwiaj\u0105cy dokonywanie skorelowanej wizualizacji mikroskopowej z jednoczesn\u0105 rejestracj\u0105 promieniowania rozproszenia Ramana w mikroobszarach oraz wt\u00f3rnego promieniowania Rentgen. zr\u00f3\u017cnicowanego d\u0142ug. fali (WDX).<\/p>\n
Rozdzielczo\u015b\u0107 obrazowania SEM wynosi:<\/p>\n
Mikroskop umo\u017cliwia obrazowanie elektronowe z pochylaniem wi\u0105zki. Mo\u017cliwe jest r\u00f3wnie\u017c obrazowanie wysokorozdzielcze pr\u00f3bek dia- para- oraz ferromagnetycznych, poniewa\u017c w otoczeniu pr\u00f3bki nie wyst\u0119puj\u0105 pola elektromagnetyczne.<\/p>\n
Wi\u0105zk\u0119 pierwotn\u0105 mo\u017cna regulowa\u0107 w zakresie napi\u0119cia przyspieszaj\u0105cego od 50V do 30kV. Mikroskop umo\u017cliwia r\u00f3wnoczesne obrazowanie SE i BSE.<\/p>\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[\/vc_column][vc_column width=”1\/6″][\/vc_column][\/vc_row][vc_row el_class=”container”][vc_column width=”1\/6″][\/vc_column][vc_column width=”2\/3″ el_class=”container”][vc_empty_space height=”2em”]\r\n
\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[vc_custom_heading text=”Wyposa\u017cony w dzia\u0142o elektronowe z emiterem Schottky oraz kolumn\u0119 FIB do trawienia i modyfikacji powierzchni wraz z systemem do polerowania jonowego i oprogramowaniem do analiz 3D (SEM-FIB).” font_container=”tag:p|font_size:1.6em|text_align:left|line_height:1.5″ google_fonts=”font_family:PT%20Sans%3Aregular%2Citalic%2C700%2C700italic|font_style:700%20bold%20regular%3A700%3Anormal” el_class=”container”][vc_single_image image=”481″ img_size=”full” el_class=”container”]\r\n
Mikroskop umo\u017cliwia obrazowania mi\u0119dzy innymi sekwencyjn\u0105 rejestracj\u0119 obraz\u00f3w obiektu powierzchnia po powierzchni z jednoczesnym odcinaniem kilkudziesi\u0119cionanometrycznych skrawk\u00f3w preparatu wewn\u0105trz komory mikroskopu podczas prowadzenia eksperymentu w celu p\u00f3\u017aniejszego sk\u0142adania tr\u00f3jwymiarowych wizualizacji materia\u0142\u00f3w.<\/p>\n
Rozdzielczo\u015bci\u0105 obrazowania SEM wynosi:<\/p>\n
Mikroskop wyposa\u017cony w tryb zmiennej pr\u00f3\u017cni umo\u017cliwiaj\u0105cy kompensacj\u0119 \u0142adunku elektrycznego powstaj\u0105cego w czasie obserwacji pr\u00f3bek nieprzewodz\u0105cych oraz w detektory SE oraz BSE\u00a0umieszczone wewn\u0105trz komory mikroskopu oraz dwa niezale\u017cne detektory umo\u017cliwiaj\u0105ce r\u00f3wnoczesne obrazowanie SE i BSE.<\/p>\n
Mikroskop wyposa\u017cony w kolumn\u0119 FIB (Xe) b\u0119d\u0105c\u0105 dzia\u0142em jon\u00f3w ksenonu, zapewniaj\u0105c\u0105 mo\u017cliwo\u015b\u0107 szybkiego modyfikowania \/ przygotowywania pr\u00f3bek.<\/p>\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[\/vc_column][vc_column width=”1\/6″][\/vc_column][\/vc_row][vc_row el_class=”container”][vc_column width=”1\/6″][\/vc_column][vc_column width=”2\/3″ el_class=”container”][vc_empty_space height=”2em”]\r\n
\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[vc_custom_heading text=”Rozdzielczo\u015b\u0107 obrazowania 500 nm, mo\u017cliwo\u015b\u0107 montowania pr\u00f3bek o maksymalnej \u015brednicy 50 cm i wysoko\u015bci 71 cm, a ich waga nie powinna przekroczy\u0107 45 kg.” font_container=”tag:p|font_size:1.6em|text_align:left|line_height:1.5″ google_fonts=”font_family:PT%20Sans%3Aregular%2Citalic%2C700%2C700italic|font_style:700%20bold%20regular%3A700%3Anormal” el_class=”container”][vc_single_image image=”479″ img_size=”full” el_class=”container”]\r\n
W tomografie zainstalowano \u017ar\u00f3d\u0142o rentgenowskie o parametrach 30-160 kV \/ 25W. \u00b5Ct umo\u017cliwia obserwacje proces\u00f3w dynamicznych zwi\u0105zanych ze zmian\u0105 temperatury lub w wyniku oddzia\u0142ywania mechanicznego.<\/p>\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[\/vc_column][vc_column width=”1\/6″][\/vc_column][\/vc_row][vc_row el_class=”container”][vc_column width=”1\/6″][\/vc_column][vc_column width=”2\/3″ el_class=”container”][vc_empty_space height=”2em”]\r\n