{"id":4511,"date":"2026-01-12T13:49:59","date_gmt":"2026-01-12T12:49:59","guid":{"rendered":"https:\/\/us.edu.pl\/instytut\/iim\/?page_id=4511"},"modified":"2026-01-12T13:49:59","modified_gmt":"2026-01-12T12:49:59","slug":"pracownia-skaningowej-mikroskopii-elektronowej","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/us.edu.pl\/instytut\/iim\/nauka-badania\/laboratoria-pracownie\/pracownia-skaningowej-mikroskopii-elektronowej\/","title":{"rendered":"Pracownia Skaningowej Mikroskopii Elektronowej"},"content":{"rendered":"

[vc_row el_class=”container”][vc_column][vc_tta_tour][vc_tta_section title=”O pracowni” tab_id=”1645113822652-dbfa6435-85b9″]\r\n

\r\n
\r\n \r\n

Pracownia skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM)<\/strong> wyposa\u017cona jest w 2 skaningowe mikroskopy elektronowe firmy JEOL typ. JSM64080 i JSM7100F. Mikroskopy te s\u0142u\u017c\u0105 do analizy powierzchni pr\u00f3bek z w makro, mikro i nanoobszarach.<\/p>\n

Pracownia oferuje m.in. badania: mikrostruktury, morfologii, topografii powierzchni, analizy struktury, a tak\u017ce analizy sk\u0142adu chemicznego pr\u00f3bek za pomoc\u0105 metody EDS, takich jak analiza punktowa, liniowa czy powierzchniowa oraz analiz\u0119 orientacji krystalograficznej za pomoc\u0105 techniki EBSD.<\/p>\n

Dzia\u0142anie i mo\u017cliwo\u015bci<\/strong>.<\/p>\n

Obrazowanie w SEM mo\u017cliwe jest dzi\u0119ki skanowaniu powierzchni pr\u00f3bki wi\u0105zk\u0105 elektron\u00f3w. Oddzia\u0142ywanie wi\u0105zki z materia\u0142em pr\u00f3bki w okre\u015blonym jej obszarze analizowane jest za pomoc\u0105 wielu detektor\u00f3w w tym SE, BE, EBSD, XRF. Obrazy SEM charakteryzuj\u0105 si\u0119 du\u017c\u0105 g\u0142\u0119bi\u0105 ostro\u015bci.<\/p>\n

Analiza morfologii i topografii powierzchni <\/u>(przy zastawaniu detektor\u00f3w elektron\u00f3w wt\u00f3rnych (SE \u2013 ang. Secondary Electron) i wstecznie rozproszonych (BSE \u2013 BackScattered Electrons) pozwala na okre\u015blenie jako\u015bci powierzchni badanych pr\u00f3bek, np. pow\u0142ok ochronnych, wad materia\u0142owych (uszkodze\u0144), a tak\u017ce analiz\u0119 prze\u0142om\u00f3w i zniszcze\u0144 korozyjnych oraz wykonanie charakterystyki mikrosktruktury badanego materia\u0142u<\/p>\n

Analiza sk\u0142adu chemicznego<\/u> \u00a0<\/strong>(jako\u015bciowa i ilo\u015bciowa) prowadzona jest technik\u0105 spektroskopii dyspersji energii (EDS ang. Energy Dispersive X-ray Spectroscopy). Po wzbudzeniu pr\u00f3bki przez wi\u0105zk\u0119 elektron\u00f3w, detektor EDS analizuje emitowane promieniowanie rentgenowskie, identyfikuj\u0105c pierwiastki obecne w pr\u00f3bce i ich wzgl\u0119dne proporcje Pozwala to \u00a0na okre\u015blenie sk\u0142adu chemicznego w makro, mikro i nanoobszarach w zadanych miejscach pr\u00f3bki (analiza punktowa) wzd\u0142u\u017c okre\u015blonej linii (analiza liniowa), w zadanym obszarze (analiza powierzchniowa \u2013 mapy rozk\u0142adu powierzchniowego pierwiastk\u00f3w).<\/p>\n

Analiza orientacji krystalograficznej faz <\/u>– realizowana jest przy u\u017cyciu techniki dyfrakcji elektron\u00f3w wstecznie rozproszonych (EBSD). Pracownia wyposa\u017cona jest w ultranowoczesn\u0105 i bardzo szybk\u0105 kamer\u0119 EBSD wyprodukowan\u0105 przez, wiod\u0105cego \u015bwiatowego producenta system\u00f3w dyfrakcji elektronowej, firm\u0119 Oxford.<\/p>\n

Przy wykorzystaniu techniki EBSD \u00a0mo\u017cliwe jest okre\u015blenie informacji o budowie krystalograficznej faz oraz orientacji ziarn i nanokrystalit\u00f3w w pr\u00f3bce. Pozwala r\u00f3wnie\u017c na analiz\u0119 lokalnej tekstury, sk\u0142adu fazowego i napr\u0119\u017ce\u0144 w materia\u0142ach krystalicznych i krystaliczno\/amorficznych.<\/p>\n

Zastosowanie (materia\u0142y<\/strong>)<\/p>\n

W badaniach wszystkich grup materia\u0142\u00f3w in\u017cynierskich (metale, stopy, ceramika, polimery, kompozyty). W badaniach biologicznych i geologicznych.<\/p>\n

Specyfika bada\u0144<\/strong><\/p>\n

Przygotowanie pr\u00f3bek \u2013 powierzchnia pr\u00f3bka musi by\u0107 odpowiednio przygotowana i pozbawiona napr\u0119\u017ce\u0144. Pr\u00f3bka mocowana na stoliku mikroskopowym zazwyczaj za pomoc\u0105 przewodz\u0105cej ta\u015bmy w\u0119glowej. W przypadku materia\u0142\u00f3w nieprzewodz\u0105cych lub organicznych konieczne jest wykonanie dodatkowych czynno\u015bci, takich jak pokrycie cienk\u0105 warstw\u0105 z\u0142ota lub w\u0119gla, aby zapewni\u0107 odpowiednie przewodnictwo i jako\u015b\u0107 obrazu.<\/p>\n<\/div>\r\n <\/div>\r\n <\/div>[\/vc_tta_section][vc_tta_section title=”Wyposa\u017cenie” tab_id=”1645113822678-51a69647-60ce”]\r\n

\r\n
\r\n \r\n

Wyposa\u017cenie pracowni:<\/p>\n