Uniwersytet Śląski w Katowicach

Kierownik: prof. dr hab. Jacek Szade, jacek.szade@us.edu.pl

Opiekun:

• dr Joanna Klimontko, joanna.klimontko@us.edu.pl

Lokalizacja: P4, budynek H

W ramach realizowanych projektów badawczych a także interdyscyplinarnej współpracy z różnymi ośrodkami naukowymi i akademickimi zespół kierowany przez prof. dr hab. Jacka Szade prowadzi badania z zakresu charakteryzacji fizyko-chemicznej różnego typu materiałów. Prowadzone w laboratorium badania obejmują między innymi dyscypliny takie jak: nauki fizyczne, nauki chemiczne, inżynieria materiałowa, nauki biologiczne, nauki farmaceutyczne, nauki o ziemi i środowisku, nauki medyczne.

W laboratorium prowadzone są badania wykorzystujące metody dyfrakcji promieni rentgenowskich. Badania dotyczą różnych dyscyplin: fizyki, chemii, inżynierii materiałowej, farmacji i nauk o Ziemi. Prowadzone są także badania interdyscyplinarne. Badane są materiały polikrystaliczne, cienkie warstwy oraz nanomateriały.

Aparatura:

Dyfraktometr proszkowy Empyrean firmy PANalytical wyposażony w goniometr w układzie pionowym Θ – Θ , koło Eulera z obrotem φ i χ oraz stolikiem x,y,z (pomiar naprężeń, tekstury oraz reflektometria), detektory: scyntylacyjny i 3D-PIXcel.

Dyfraktometr wyposażony jest w kamerę wysokotemperaturową HTK Anton Paar 450 umożliwiającą  obserwacje przemian fazowych in situ w zakresie temperatur od -195 do 450°C w atmosferze wysokiej próżni.

Stolik 5-osiowy umożliwia badanie cienkich warstw do grubości 200nm, pozwala analizować rentgenostrukturalnie materiały cienkowarstwowe oraz analizować naprężenia własne oraz teksturę w materiałach.

Tematyka:

Charakterystyka strukturalna różnego typu materiałów; analiza fazowa, wyznaczanie wielkości krystalitów i zniekształceń sieciowych, pomiar naprężeń własnych i tekstury, analiza niejednorodności materiału (technika SKP)

Zakres badań:

• analiza strukturalna materiałów (próbki w postaci sproszkowanej lub litej, np. cienkie warstwy)
• jakościowa oraz ilościowa analiza składu fazowego XRD z wykorzystaniem bazy danych ICDD PDF4
• obliczenia parametrów komórki elementarnej i położeń atomów w komórce elementarnej,
• pomiar naprężeń i tekstury oraz badania cienkich warstw metodą reflektometrii

Pomiary w zakresie temperatur od  -190⁰C do +450⁰C