Laboratorium Spektroskopii Fotoelektronów
Kierownik: dr Michał Pilch, michal.pilch@us.edu.pl
Tel/Phone: + 48 32 349 75 64,
Lokalizacja: E/-1/11
Specjalizacja laboratorium obejmuje charakteryzację materiałów funkcjonalnych dla informatyki, elektroniki, ale także próbek środowiskowych (skażenia środowiska). Analizy służą optymalizacji procesów katalizy, adsorpcji i desorpcji gazów, zabezpieczaniu różnych materiałów przed korozją, badaniu biomateriałów, cienkich warstw i złącz.
Aparatura:
- Wielofunkcyjny Spektrometr Elektronów XPS (X-Ray Photoelectron Spectrometry) PHI 5600 firmy Physical Electronics (U.S.A.);
- komora preparacyjna in-situ: wygrzewanie, utlenianie, redukcja, pomiary elektryczne;
- pomiary prowadzone są w środowisku ultra wysokiej próżni (∼10-10Tora);
- działo jonowe do oczyszczania powierzchni próbek lub/i profili wgłębnych (Ar);
- lampa rentgenowska standardowa z podwójną anodą Mg i Al;
- lampa rentgenowska z anodą Al z monochromatorem;
- rozdzielczość energetyczna dla źródła monochromatyzowanego jest rzędu 0,35eV;
- obszar analizy: przesłony o średnicy 800, 400, 120, 30 µm oraz przesłona;
- głębokość analizy 1-10 monowarstw;
- oprogramowanie do sterowania pomiarami (PC Access) i analizy wyników pomiarów (Multipak).
Tematyka:
Badanie procesów zachodzących w takich materiałach jak:
- ferroelektryki, biomateriały, materiały inteligentne;
- izolatory, metale, nadprzewodniki i półprzewodniki;
- kryształy, cienkie warstwy, ceramiki, włókna, szkła, polimery, materiały porowate, proszki oraz inne ciała stałe.
Zakres usług:
- identyfikację stanów chemicznych (wartościowość, energia wiązania);
- określenie struktury elektronowej oraz analizę pasma walencyjnego;
- stwierdzenie, jakie jest ułożenie atomów w warstwach przypowierzchniowych oraz na powierzchni;
- określenie rozkładu atomów i związków adsorbowanych na powierzchni, a także zbadanie ich stanów elektronowych;
- znalezienie rozkładu pierwiastków i faz ze zmianą głębokości;
- otrzymanie obrazu badanej powierzchni w funkcji rozkładu zadanego pierwiastka.