Badania prowadzone w laboratorium koncentrują się na kompleksowej analizie struktury krystalicznej materiałów z wykorzystaniem metod dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego (XRD). Laboratorium umożliwia pełen zakres badań – od pomiarów, aż po zaawansowaną analizę i interpretację uzyskanych wyników. Głównym celem przeprowadzanych działań jest identyfikacja faz krystalicznych, określenie ich udziału ilościowego oraz szczegółowa charakterystyka struktury krystalicznej materiałów w postaci proszków, materiałów litych, a także cienkich warstw.
Laboratorium wyposażone jest w dyfraktometr rentgenowski oraz stanowiska komputerowe z oprogramowaniem HighScore i dostępem do bazy danych ICDD PDF-5+, które umożliwiają precyzyjną analizę refleksów dyfrakcyjnych, porównanie wyników z szerokim zestawem referencyjnych wzorców oraz prowadzenie obliczeń. Laboratorium stanowi zintegrowane środowisko badawcze, umożliwiające kompleksową charakterystykę fazową i strukturalną materiałów stosowanych w różnorodnych dziedzinach nauki i przemysłu.
Laboratorium wyposażone jest w:
- Dyfraktometr rentgenowski Philips X’Pert Pro – dyfraktometr wyposażony w lampę rentgenowską z miedzianą anodą (λ CuKα = 1,54178 Å) umożliwiający kompleksową analizę proszków, materiałów litych, ceramik, metali i stopów, polimerów oraz kompozytów. Dzięki wysokiej precyzji pomiarów możliwe jest wyznaczanie wielkości krystalitów, stopnia krystaliczności oraz makro- i mikronaprężeń, w tym naprężeń szczątkowych. Aparatura pozwala także na prowadzenie badań w trybie stałego kąta padania (GIXRD), co umożliwia szczegółową analizę cienkich warstw i powierzchni materiałów.
